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微區掃描電化學(xué)測試系統

簡(jiǎn)要描述:VersaScan微區掃描電化學(xué)測試系統是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。它是提供給電化學(xué)及材料測試以較高空間分辨率的一個(gè)測試平臺。

  • 產(chǎn)品型號:VersaSCAN
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-07-09
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:17663
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

VersaScan微區掃描電化學(xué)測試系統是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設計基礎上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學(xué)微區測試系統。它是提供給電化學(xué)及材料測試以較高空間分辨率的一個(gè)測試平臺。每個(gè)VersaSCAN都具有高分辨率,長(cháng)工作距離的閉環(huán)定位系統并安裝于抗震光學(xué)平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統上,輔助選件包括,如電位計,壓電振動(dòng)單元,或者激光傳感器,為不同掃描探針試驗,定位系統提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統整合在一起,由以太網(wǎng)來(lái)控制,保證小信號的精確測量。

它是一個(gè)模塊化配置的系統,可以實(shí)現如下現今所有微區掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區形貌測試:

  • Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡

          -AC-SECM 無(wú)氧化還原介質(zhì)掃描電化學(xué)顯微鏡

          -Stylus-Probe 柔性探針技術(shù)-等距離掃描電化學(xué)顯微鏡

  • Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) 掃描振動(dòng)電極測試

  • Scanning Kelvin Probe (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測試

  • Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) 微區電化學(xué)阻抗測試

  • Scanning Droplet Cell (SDC) 掃描電解液微滴測試

  • Non-Contact Surface Profiling (OSP) 非觸式光學(xué)微區形貌測試                                                   

  • Ion Selective Probe (ISP) 表面離子濃度成像系統

以上每項技術(shù)使用不同的測量探針,且安裝位置與樣品非常接近,但是不接觸到樣品。隨著(zhù)探針測試的進(jìn)行,改變探針的空間位置。然后將所記錄的數據對探針位置作圖,針對不同技術(shù),該圖可以呈現微區電化學(xué)電流,阻抗,相對功函或者是表面形貌圖。


VersaScan微區掃描電化學(xué)測試系統包括 :


VersaSCAN SECM
Scanning ElectroChemical Microscopy 掃描電化學(xué)顯微鏡系統

 

VersaSCAN SECM 整合了定位系統、兩臺VersaSTAT恒電位儀和錐形拋光的*微電極探針為一體。SECM多樣化的技術(shù)提供了高空間分辨率,可應用于反應動(dòng)力學(xué),生物傳感器,催化劑和腐蝕機理等研究。

  • 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

  • 可進(jìn)行逼近曲線(xiàn)實(shí)驗包含“反饋"模式和“發(fā)生-采集"模式兩種成像模式。

  • 結合了表面形貌測量技術(shù),如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

  • VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強大的成套的非掃描電化學(xué)測試,取決于其軟件模式。

 

VersaSCAN SVET
Scanning Vibrating Electrode Technique 掃描振動(dòng)電極測量系統

 

VersaSCAN SVET 整合了定位系統及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計和單絲探針。 SVET技術(shù)測量溶液中的電壓降。電解液中的電壓降是由樣品表面的局部電流所導致的。 SVET提供高分辨率可應用于不均勻腐蝕,點(diǎn)蝕,焊接和電耦合等。此外,SVET還有生物方面的應用。

  • 鎖相放大器:  Signal Recovery 7230

  • 可進(jìn)行線(xiàn)掃描和面掃描

  • 當設定不同的測量時(shí)間測量,可進(jìn)行時(shí)間分辨成像

  • 結合了表面形貌測量技術(shù),如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

 

VersaSCAN LEIS
Localized Electrochemical Impedance System微區電化學(xué)阻抗測試系統

 

VersaSCAN LEIS 整合了 定位系統和VersaSTAT 3F 及差分電壓選項, 靜電計,雙探頭探針。 LEIS技術(shù)是通過(guò)測量施加于樣品的交流電壓和由探針所測量的溶液中交流電流的比值,來(lái)計算局部阻抗,LEIS加入高的空間分辨率,可應用于有機涂層,裸露的金屬腐蝕,和所有和增加的交流技術(shù)相關(guān)的應用。

  • 恒電位儀:VersaSTAT 3F及差分輔助選項

  • 可進(jìn)行固定頻率/掃描位置的數據成像,和固定位置/掃描頻率的Bode圖或者Nyquist圖。

  • 當設定不同的測量時(shí)間測量,可進(jìn)行時(shí)間分辨成像

  • 結合了表面形貌測量技術(shù),如典型的如非接觸式微區形貌掃描系統OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

 

VersaSCAN SKP
Scanning Kelvin Probe 掃描開(kāi)爾文探針系統

 

VersaSCAN SKP整合定位系統及鎖相放大器技術(shù)(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 壓電振動(dòng)模塊, 電位計和鎢絲探針。SKP 技術(shù)測量探針和樣品表面位置的相對功函差。這是一個(gè)非破壞的技術(shù),可運行于環(huán)境氣氛,潮濕氣氛和無(wú)電解液情況下。相對功函已經(jīng)被證實(shí)與腐蝕電位 (Ecorr)相關(guān)。SKP 提供的高空間分辨率可應用于材料,半導體,金屬腐蝕,甚至這些材料上的涂層。

  • 鎖相放大器:  Signal Recovery 7230

  • 可進(jìn)行表面形貌測量,測量和設置探針和樣品間的距離。

  • 使用同一探針,結合所進(jìn)行的表面形貌測量,進(jìn)行樣品表面定距離掃描。

 

VersaSCAN SDC
Scanning Droplet Cell電解液微滴掃描系統

 

VersaSCAN SDC 整合電位系統和一臺VersaSTAT,  一個(gè)機械加工的PTFE 滴液系統頭, 以及一個(gè)蠕動(dòng)泵。SDC 技術(shù)對電解液微滴進(jìn)行電化學(xué)測量, 固定電極/電解液界面的面積。SDC提供高空間分辨率可應用于動(dòng)力學(xué),腐蝕,流體研究和任何研究樣品表面微小面積而無(wú)需破壞樣品的應用或者控制面積在不同電解液中的暴露時(shí)間的應用。

  • 恒電位儀: VersaSTAT 3 / 3F /4

  • 可進(jìn)行恒定電化學(xué)參數/位置掃描的數據成圖和固定位置/動(dòng)態(tài)信號的繪圖,如循環(huán)伏安,塔菲爾, 電化學(xué)交流阻抗等。

  • 可運行流動(dòng)或者是靜止的電解液液滴。

 

VersaSCAN OSP
Non-Contact Optical Surface Profiling
非觸式光學(xué)微區形貌測試系統

 

VersaSCAN OSP整合定位系統和高精度,高速度激光位移傳感器。 OSP 技術(shù)使用漫反射機理用于樣品的表面形貌。OSP可作為非常靈敏水平的機制用于表面形貌測量,,或繪制地形圖與其它掃描探針技術(shù)一起應用于樣品表面定距離掃描測試。


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